Банк рефератов содержит более 364 тысяч рефератов, курсовых и дипломных работ, шпаргалок и докладов по различным дисциплинам: истории, психологии, экономике, менеджменту, философии, праву, экологии. А также изложения, сочинения по литературе, отчеты по практике, топики по английскому.
Полнотекстовый поиск
Всего работ:
364150
Теги названий
Разделы
Авиация и космонавтика (304)
Административное право (123)
Арбитражный процесс (23)
Архитектура (113)
Астрология (4)
Астрономия (4814)
Банковское дело (5227)
Безопасность жизнедеятельности (2616)
Биографии (3423)
Биология (4214)
Биология и химия (1518)
Биржевое дело (68)
Ботаника и сельское хоз-во (2836)
Бухгалтерский учет и аудит (8269)
Валютные отношения (50)
Ветеринария (50)
Военная кафедра (762)
ГДЗ (2)
География (5275)
Геодезия (30)
Геология (1222)
Геополитика (43)
Государство и право (20403)
Гражданское право и процесс (465)
Делопроизводство (19)
Деньги и кредит (108)
ЕГЭ (173)
Естествознание (96)
Журналистика (899)
ЗНО (54)
Зоология (34)
Издательское дело и полиграфия (476)
Инвестиции (106)
Иностранный язык (62792)
Информатика (3562)
Информатика, программирование (6444)
Исторические личности (2165)
История (21320)
История техники (766)
Кибернетика (64)
Коммуникации и связь (3145)
Компьютерные науки (60)
Косметология (17)
Краеведение и этнография (588)
Краткое содержание произведений (1000)
Криминалистика (106)
Криминология (48)
Криптология (3)
Кулинария (1167)
Культура и искусство (8485)
Культурология (537)
Литература : зарубежная (2044)
Литература и русский язык (11657)
Логика (532)
Логистика (21)
Маркетинг (7985)
Математика (3721)
Медицина, здоровье (10549)
Медицинские науки (88)
Международное публичное право (58)
Международное частное право (36)
Международные отношения (2257)
Менеджмент (12491)
Металлургия (91)
Москвоведение (797)
Музыка (1338)
Муниципальное право (24)
Налоги, налогообложение (214)
Наука и техника (1141)
Начертательная геометрия (3)
Оккультизм и уфология (8)
Остальные рефераты (21697)
Педагогика (7850)
Политология (3801)
Право (682)
Право, юриспруденция (2881)
Предпринимательство (475)
Прикладные науки (1)
Промышленность, производство (7100)
Психология (8694)
психология, педагогика (4121)
Радиоэлектроника (443)
Реклама (952)
Религия и мифология (2967)
Риторика (23)
Сексология (748)
Социология (4876)
Статистика (95)
Страхование (107)
Строительные науки (7)
Строительство (2004)
Схемотехника (15)
Таможенная система (663)
Теория государства и права (240)
Теория организации (39)
Теплотехника (25)
Технология (624)
Товароведение (16)
Транспорт (2652)
Трудовое право (136)
Туризм (90)
Уголовное право и процесс (406)
Управление (95)
Управленческие науки (24)
Физика (3463)
Физкультура и спорт (4482)
Философия (7216)
Финансовые науки (4592)
Финансы (5386)
Фотография (3)
Химия (2244)
Хозяйственное право (23)
Цифровые устройства (29)
Экологическое право (35)
Экология (4517)
Экономика (20645)
Экономико-математическое моделирование (666)
Экономическая география (119)
Экономическая теория (2573)
Этика (889)
Юриспруденция (288)
Языковедение (148)
Языкознание, филология (1140)

Реферат: Измерение фокусных, вершинных фокусных и рабочих расстояний оптических систем

Название: Измерение фокусных, вершинных фокусных и рабочих расстояний оптических систем
Раздел: Рефераты по коммуникации и связи
Тип: реферат Добавлен 08:15:27 28 ноября 2008 Похожие работы
Просмотров: 107 Комментариев: 2 Оценило: 0 человек Средний балл: 0 Оценка: неизвестно     Скачать

БЕЛОРУССКИЙ ГОСУДАРСТВЕННЫЙ УНИВЕРСИТЕТ ИНФОРМАТИКИ И РАДИОЭЛЕКТРОНИКИ

Кафедра электронной техники и технологии

РЕФЕРАТ

На тему:

«Измерение фокусных, вершинных фокусных и рабочих расстояний оптических систем»

МИНСК, 2008

В процессе изготовления ЭОС приборов осу­ществляется контроль их оптических характеристик. Остановимся на некоторых из них, в частности, на определении фокусных рас­стояний f', вершинных фокусных расстояний S ' F и рабочих рас­стояний А, т.е. расстояний от опорного торца оправы системы до фокальной плоскости.

Вершинные фокусные расстояния обычно контролируют при изготовлении отдельных и склеенных линз.

Фокусные расстояния проверяют в более сложных оптиче­ских системах, например, в объективах.

Рабочие расстояния измеряют в тех случаях, когда нужно знать расположение фокуса объектива относительно его опор­ного торца для последующего соединения испытуемой системы с какой-либо другой оптической или механической системой (рис.1).

В отличие от вершинных фокусных расстояний рабочее рас­стояние объектива можно изменять подрезкой опорного торца оправы или какого-либо промежуточного торца. Методику изме­рения указанных параметров выбирают в зависимости от поставленной в каждом конкретном случае задачи.

При контроле изготовления некоторых оптических деталей необходимо сравнивать измеренные и расчетные вершинные фокусные расстояния.

В чертежах на оптические детали обычно приводятся вели­чины фокусных расстояний и вершинных фокусных расстояний для параксиальных лучей, т. е. лучей, достаточно близких к оп­тической оси, для монохроматического света для линии нат­рия D ( = 589,3 нм). Поэтому при измерении целесообразно диафрагмировать контролируемые детали, пропуская сквозь нихузкие центральные пучки монохроматического света, создаваемого, например, с помощью интерференционного фильтра. Это особенно существенно при измерении несклеенных деталей, у которых сферическая и хроматическая аберрации весьма велики.

При определении фокусного расстояния и рабочего расстояния оптических систем целесообразно за положение фокальной пло­скости принимать плоскость, в которой получается наилучшее изображение, соответствующее наилучшему распределению энер­гии в изображении точки.

Местоположение этой плоскости зависит от остаточных аберра­ций системы и от применяемых при измерениях источников света и приемников излучений.

Поэтому при подобных измерениях, если это не обусловлено специальными требованиями, желательно контролируемую си­стему не диафрагмировать, а источник света и приемник излуче­ний подбирать так, чтобы их спектральные характеристики были близки к тем, которые имеют место в реальных условиях эксплуатации, в противном случае необходимо учитывать соответствующую разницу в положениях фокальной плоскости.

Например, при переходе от рабочего расстояния объектива, измеренного визуальным или фотоэлектрическим методом к фото­графическому рабочему расстоянию всегда учитывается величина смещения. Фокальной плоскости объектива.

Измерение вершинных фокусных расстояний

Измерение на оптической скамье . Вершинные фокусные рас­стояния положительных оптических деталей и систем измеряют на оптических скамьях типа ОСК-2, ОСК-3, а также на скамьях иностранных фирм.

При измерении вершинного фокусного расстояния микроскоп сначала фокусируют на заднюю поверхность контролируемой детали, а затем на изображение сетки, расположенной в фокаль­ной плоскости объектива коллиматора.

В обоих положениях ми­кроскопа снимают отсчеты по шкале с помощью иониуса. Разность отсчетов определяет вершинное фокусное расстояние.

Сетку коллиматора освещают электрической лампой через молочное или матовое стекло и светофильтр.

Фокусировку па поверхность линзы осуществляют по име­ющимся на ней мельчайшим царапинам. Поверхность линзы освещаютисточником света, располо­женным сбоку.

Если царапины видны плохо, то на поверхность наносят не­сколько пылинок ликоподия, мела или пудры; иногда на поверхность достаточно подышать и затем фоку­сировать по пузырькам воды.

В большинстве случаев достаточ­но применять увеличение микроско­па порядка 20—30х . При измерении отрицательных систем либо объектив микроскопа заменяют длиннофокус­ной положительной линзой, либо весь микроскоп заменяют зрительной тру­бой с положительной насадкой.

В этом случае наблюдательный прибор после наведения на поверхность следует перемещать в сторону коллиматора, а не в противоположную сторону, как это имеет место при измерении положительных систем. Погрешность опре­деления положительных вершинных фокусных расстояний, с превышает 1%, что вполне достаточно для сравнения полученных. результатов с расчетными данными.

Точность определения отри­цательных вершинных фокусных расстояний вообще меньше точности положительных и уменьшается с увеличением абсолютныхвеличин вершинных расстояний.

При испытании хорошо корригированной системы точность измерений можно значительно повысить, если ее не диафрагмировать. В этом случае она зависит от качества коррекции системы и её апертуры.

При достаточно совершенной контролируемой системе ошибку наведения можно определить в мкм:

где и - апертурный угол испытуемой системы.

Схема измерений вершинных фокусных расстояний, предложенная Ю.В. Коломийцовым.

В этих случаях необходимо, чтобы апертура наблюдательного микроскопа была не меньше апертуры контролируемой системы.

Измерение по методу Ю. В. Коломийцова. Схема установки, предложенная Ю.В. Коломпйцовым, предназначена для быстрого относительного контроля положительных и отрицательных вер­шинных фокусных расстояний в условиях массового производства.

Пучок лучей, выходящих из щели S коллиматора, освещаемой лампой накаливания 1, проходит объектив коллиматора 2, допол­нительный объектив 3, контролируемую линзу 4и, отразившись от зеркала 6, сходится в фокальной плоскости объектива зритель­ной трубы 9.

Полученное таким образом изображение S' щели коллиматора с помощью двух клиньев 7 и 8разденется на две части, разведенные относительно друг друга по высоте (и ).

Дополнительный объектив 3 является сменным и рассчиты­вается отдельно для каждого типа испытуемых линз с компенса­цией их сферических и хроматических аберраций.

Изображения щели и будут расположены точно Друг над другом в, если фокус линзы 4совпадает с фокусом дополнительного объектива.

В этом случае при отрицательной контролируемой линзе линза 4и дополнительный объектив 3 образуют галилеевскую оптическую систему (а) при положительной испытуемой линзе — кеплеровскую систему (б).

Если фокусы линзы 4 и объектива 3не совпадут, то изображения щели разойдутся (рис. 4, г ), тогда их можно совме­стить перемещением дополнительного объектива 3.

Объектив 3перемещается с помощью микрометренного меха­низма, по которому это смещение отсчитывают.

Вершинные фокусные расстояния измеряют следующим обра­зом. В прибор, юстированный по эталонной линзе, вставляют контролируемую, линзу указанным выше способом, вновь совме­щаются изображения щели; полученное при этом смещение допол­нительного объектива 3, измеренное по шкале микрометренного механизма, равно величине отступления вершинного фокусного расстояния контролируемой линзы от эталонной.

Точность измерения на приборе весьма велика. Так, по экспе­риментальным данным, максимальная погрешность при вершин­ном фокусном отрезке линзы, равном 25 мм, составила 0,04%.

Измерение фокусных расстояний

Метод увеличения на коллиматоре.

Визуальное определение фокусных расстоянийвыполняют по схеме. В фокальной плоскости коллиматорного объектива 2расположена сетка 1с несколькими вертикальными штрихами. Ее изображение получается в фокальной плоскости испытуемого объектива 3. Это изображение рассматривают посредством микро­скопа и измеряют с помощью окуляр-микрометра.

,

отсюда (1)

Обозначив =С = const, получим

Если фокусное расстояние коллиматорного объектива неиз­вестно, то можно сразу определить постоянную С.

Для этого необходимо измерить с помощью теодолита угол, под которым видно расстояние между штрихами сетки со стороны объектива коллиматора.

Фокус­ное расстояние объектива коллиматора равно 750 мм. В его фокальной плоскости расположена сетка с шестью параллельными штри­хами; расстояния, между ними от 6 до 60 мм. Измерительный ми­кроскоп установки имеет два сменных объектива с увеличением 3 и 6х и окуляр-микрометр с увеличением 10х .

В зависимости от величины фокусного расстояния испытуемой системы измерения выполняют либо окуляр-микрометром, если в поле зрения микро­скопа видна сразу симметричная пара штрихов коллиматорной сетки, либо перемещением всего микроскопа.

Для этой цели микроскоп устанавливают на специальной каретке, снабженной микро-метренным винтом.

Первый способ применяется для измерения объективов с фо­кусными расстояниями до 40 мм, второй — для объективов с большими фокусными расстояниями.

Суммарная погрешность измерения обычно составляет 0,2—0,3%. измеряемой величины.

Кроме указанных ошибок на точность измерений может влиять неточность установки сетки в фокальной плоскости объектива коллиматора, однако эта ошибка уменьшается пропорционально отношению квадратов фокусных расстояний контролируемого и коллиматорного объективов.

Таким образом, относительная погрешность при измерении фокусного расстояния составит 0,3—0,6%.

Фотографическое определение фокусных расстояний отличается от визуального только тем, что изображение сетки коллиматора, полученное в фокальной плоскости испытуемого объектива, вос­принимается фоточувствительным слоем, а затем измеряется па компараторе.

Таким методом обычно определяют фокусные расстояния фото­графических объективов, причем фокусное расстояние измеряют одновременно с определением фотографической разрешающей силы.


ЛИТЕРАТУРА

1. Малов А.Н., Законников Обработка деталей оптических приборов. Машиностроение, 2006. - 304 с.

2. Бардин А.Н. Сборник и юстировка оптических приборов. Высшая школа, 2005. - 325с.

3. Кривовяз Л.М., Пуряев Д.Т., Знаменская М.А. Практика оптической измерительной лаборатории. Машиностроение, 2004. - 333 с.

Оценить/Добавить комментарий
Имя
Оценка
Комментарии:
Где скачать еще рефератов? Здесь: letsdoit777.blogspot.com
Евгений07:17:17 19 марта 2016
Кто еще хочет зарабатывать от 9000 рублей в день "Чистых Денег"? Узнайте как: business1777.blogspot.com ! Cпециально для студентов!
15:47:34 25 ноября 2015

Работы, похожие на Реферат: Измерение фокусных, вершинных фокусных и рабочих расстояний оптических систем

Назад
Меню
Главная
Рефераты
Благодарности
Опрос
Станете ли вы заказывать работу за деньги, если не найдете ее в Интернете?

Да, в любом случае.
Да, но только в случае крайней необходимости.
Возможно, в зависимости от цены.
Нет, напишу его сам.
Нет, забью.



Результаты(150759)
Комментарии (1839)
Copyright © 2005-2016 BestReferat.ru bestreferat@mail.ru       реклама на сайте

Рейтинг@Mail.ru